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Übersicht-Veröffentlichung

Titel: Beschaffung eines Rasterkraftmikroskops (AFM)

Beschreibung:

Beschafft werden soll ein Rasterkraftmikroskop (Atomic Force Microscope – AFM) zur 3D Untersuchung und Analyse der Verformung und Rissausbreitung von Oberflächen verschiedener Dünnschicht- und Bulk-Materialien, sowie metallischer Gläser, unter mechanischer und thermischer Belastung.

Bekanntmachungsart:

Kerndaten für die Bekanntmachung von zu vergebenden Aufträgen, Rahmenvereinbarungen und die Einrichtung bzw. Einstellung von dynamischen Beschaffungssystemen (Anhang VIII, 1. Abschnitt, Z 2 BVergG 2018)

Veröffentlicht am:

13.09.2020

Dokumentnummer:

KDX757900-2020

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